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1. WO2022126181 - METHODS AND SYSTEMS FOR DETERMINING PARAMETERS OF ANISOTROPY

Publication Number WO/2022/126181
Publication Date 23.06.2022
International Application No. PCT/AU2021/051489
International Filing Date 14.12.2021
IPC
G01V 1/28 2006.1
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
1Seismology; Seismic or acoustic prospecting or detecting
28Processing seismic data, e.g. analysis, for interpretation, for correction
Applicants
  • COMMONWEALTH SCIENTIFIC AND INDUSTRIAL RESEARCH ORGANISATION [AU]/[AU]
Inventors
  • PERVUKHINA, Marina
  • BELOBORODOV, Roman
  • CLENNELL, Michael Benedict
  • PIANE, Claudio Delle
  • KOVALYSHEN, Yevhen
  • SHULAKOVA, Valeriya
Agents
  • FB RICE PTY LTD
Priority Data
202090465214.12.2020AU
Publication Language English (en)
Filing Language English (EN)
Designated States
Title
(EN) METHODS AND SYSTEMS FOR DETERMINING PARAMETERS OF ANISOTROPY
(FR) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES POUR DÉTERMINER LES PARAMÈTRES D'ANISOTROPIE
Abstract
(EN) Described embodiments generally relate to a method of determining parameters of VTI anisotropy of a subsurface shale formation. The method comprises receiving wireline log data relating to the subsurface formation, the data comprising density and a clay content indicator; identifying at least one layer of shale in the subsurface formation based on the wireline log data; calculating porosity, clay fraction and silt fraction based on the wireline log data; calculating an orientation distribution function (ODF) of clay platelets within the at least one layer of shale based on the clay fraction and porosity data; estimating at least three independent anisotropy parameters based on the ODF, porosity and silt fraction, the at least three anisotropic parameters comprising a shear wave anisotropy parameter; comparing the estimated shear wave anisotropy parameter with a measured shear wave anisotropy parameter determined based on the sonic log data; upon determining that the estimated shear wave anisotropy parameter is different from the measured shear wave anisotropy parameter by more than a threshold amount, determining parameters of best fit to minimise the difference between the estimated shear wave anisotropy parameter and the measured shear wave anisotropy parameter; adjusting the estimated anisotropy parameters based on the parameters of best fit; and outputting the adjusted anisotropy parameters.
(FR) L'invention concerne, selon des modes de réalisation de manière générale, un procédé de détermination de paramètres d'anisotropie d’isotropie transversale verticale (VTI) d'une formation souterraine de schiste. Le procédé consiste à recevoir des données de diagraphie de puits relatives à la formation souterraine, les données comprenant une densité et un indicateur de teneur en argile ; identifier au moins une couche de schiste dans la formation souterraine sur la base des données de diagraphie de puits ; calculer la porosité, la fraction d'argile et la fraction de limon sur la base des données de diagraphie de puits ; calculer une fonction de distribution d'orientation (ODF) de plaquettes d'argile à l'intérieur de l'une ou des couches de schiste sur la base de la fraction d'argile et des données de porosité ; estimer au moins trois paramètres d'anisotropie indépendants sur la base de la fraction ODF, de la porosité et de la fraction de vase, lesdits au moins trois paramètres anisotropes comprenant un paramètre d'anisotropie d'onde de cisaillement ; comparer le paramètre d'anisotropie d'onde de cisaillement estimé à un paramètre d'anisotropie d'onde de cisaillement mesuré déterminé sur la base des données de diagraphie sonique ; lors de la détermination du fait que le paramètre d'anisotropie d'onde de cisaillement estimé est différent du paramètre d'anisotropie d'onde de cisaillement mesuré par plus d'une quantité seuil, déterminer des paramètres de meilleur ajustement pour minimiser la différence entre le paramètre d'anisotropie d'onde de cisaillement estimé et le paramètre d'anisotropie d'onde de cisaillement mesuré ; ajuster les paramètres d'anisotropie estimés sur la base des paramètres de meilleur ajustement ; et délivrer en sortie les paramètres d'anisotropie ajustés.
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