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1. WO2023283774 - SCAN CHAIN DESIGN METHOD AND APPARATUS, AND CHIP

Publication Number WO/2023/283774
Publication Date 19.01.2023
International Application No. PCT/CN2021/105812
International Filing Date 12.07.2021
IPC
G01R 31/3185 2006.1
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
Applicants
  • 华为技术有限公司 HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventors
  • 魏连志 WEI, Lianzhi
  • 李鹏举 LI, Pengju
Agents
  • 北京中博世达专利商标代理有限公司 BEIJING ZBSD PATENT&TRADEMARK AGENT LTD.
Priority Data
Publication Language Chinese (zh)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) SCAN CHAIN DESIGN METHOD AND APPARATUS, AND CHIP
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE CONCEPTION DE CHAÎNE DE BALAYAGE, ET PUCE
(ZH) 一种扫描链设计方法、装置及芯片
Abstract
(EN) A scan chain design method and apparatus, and a chip, which relate to the field of chips. By means of adjusting the structure of a scan chain, the diagnosis resolution of the scan chain can be effectively improved. The specific solution comprises: acquiring an initial scan chain structure used for indicating a connection relationship between a plurality of scan chains and combinatorial logic; on the basis of the initial scan chain structure, determining a scan chain in which a first fan-in scan register corresponding to a first scan register in a first scan chain is located, wherein the first fan-in scan register is a scan register that is fanned into the first scan register; and when the scan chain in which the first fan-in scan register is located is the same as a scan chain in which the first scan register is located, exchanging the first fan-in scan register and a second scan register in a second scan chain.
(FR) La présente invention concerne un procédé et un appareil de conception de chaîne de balayage, et une puce, qui se rapportent au domaine des puces. Par l'ajustement de la structure d'une chaîne de balayage, la résolution de diagnostic de la chaîne de balayage peut être efficacement améliorée. La solution spécifique comprend : l'acquisition d'une structure de chaîne de balayage initiale servant à indiquer une relation de connexion entre une pluralité de chaînes de balayage et une logique combinatoire ; sur la base de la structure de chaîne de balayage initiale, la détermination d'une chaîne de balayage dans laquelle un premier registre de balayage de type éventail correspondant à un premier registre de balayage dans une première chaîne de balayage est situé, le premier registre de balayage de type éventail étant un registre de balayage qui est organisé en éventail dans le premier registre de balayage ; et quand la chaîne de balayage dans laquelle le premier registre de balayage de type éventail est situé est identique à une chaîne de balayage dans laquelle le premier registre de balayage est situé, l'échange du premier registre de balayage de type éventail et d'un second registre de balayage dans une seconde chaîne de balayage.
(ZH) 一种扫描链设计方法、装置及芯片,涉及芯片领域,通过调整扫描链结构,能够有效的提高扫描链的诊断精度。具体方案为:获取用于指示多个扫描链与组合逻辑之间的连接关系的初始扫描链结构,基于初始扫描链结构,确定第一扫描链中第一扫描寄存器对应的第一扇入扫描寄存器所在的扫描链,该第一扇入扫描寄存器为扇入第一扫描寄存器的扫描寄存器;在第一扇入扫描寄存器所在的扫描链与第一扫描寄存器所在的扫描链相同的情况下,将第一扇入扫描寄存器与第二扫描链中的第二扫描寄存器交换。
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