Processing

Please wait...

Settings

Settings

Goto Application

1. WO2021144971 - INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Publication Number WO/2021/144971
Publication Date 22.07.2021
International Application No. PCT/JP2020/001542
International Filing Date 17.01.2020
IPC
H05K 13/08 2006.1
HELECTRICITY
05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
13Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
08Monitoring manufacture of assemblages
Applicants
  • 株式会社FUJI FUJI CORPORATION [JP]/[JP]
Inventors
  • 鈴木 幹也 SUZUKI, Mikiya
  • 横井 勇太 YOKOI, Yuta
Agents
  • 特許業務法人アイテック国際特許事務所 ITEC INTERNATIONAL PATENT FIRM
Priority Data
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION
(JA) 検査装置及び検査方法
Abstract
(EN)
Provided is an inspection device which is used in a mounting system comprising a mounting device that uses a component having a plurality of electrodes including a first electrode and a second electrode. The inspection device comprises a storage unit for storing threshold information including a first threshold with respect to the first electrode and a second threshold with respect to the second electrode that are used during image processing, and a control unit which makes an image determination by applying the first threshold with respect to a first electrode area and the second threshold with respect to a second electrode area of a captured image taken of the component.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'inspection qui est utilisé dans un système de montage comprenant un dispositif de montage qui utilise un composant ayant une pluralité d'électrodes comprenant une première et une seconde électrode. Le dispositif d'inspection comprend une unité de stockage pour stocker des informations de seuil comprenant un premier seuil par rapport à la première électrode et un second seuil par rapport à la seconde électrode qui sont utilisées pendant le traitement d'image et une unité de commande qui effectue une détermination d'image par application du premier seuil par rapport à une première zone d'électrode et au second seuil par rapport à une seconde zone d'électrode d'une image capturée prise du composant.
(JA)
検査装置は、第1電極及び第2電極を含む複数の電極を有する部品を用いる実装装置を含む実装システムに用いられる装置である。この検査装置は、画像処理する際に用いる第1電極に対する第1閾値と、第2電極に対する第2閾値とを含む閾値情報を記憶する記憶部と、部品を撮像した撮像画像の第1電極の領域に対し第1閾値を適用し、第2電極の領域に対し第2閾値を適用して画像判定する制御部と、を備えたものである。
Latest bibliographic data on file with the International Bureau