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1. WO2020153264 - CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION DEVICE

Publication Number WO/2020/153264
Publication Date 30.07.2020
International Application No. PCT/JP2020/001553
International Filing Date 17.01.2020
IPC
G06T 7/80 2017.01
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
80Analysis of captured images to determine intrinsic or extrinsic camera parameters, i.e. camera calibration
Applicants
  • パナソニックIPマネジメント株式会社 PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD. [JP]/[JP]
Inventors
  • 福田 将貴 FUKUDA, Masaki
  • 杉尾 敏康 SUGIO, Toshiyasu
  • 松延 徹 MATSUNOBU, Toru
  • 吉川 哲史 YOSHIKAWA, Satoshi
  • 小山 達也 KOYAMA, Tatsuya
Agents
  • 新居 広守 NII, Hiromori
  • 寺谷 英作 TERATANI, Eisaku
  • 道坂 伸一 MICHISAKA, Shinichi
Priority Data
2019-01037624.01.2019JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE ET DISPOSITIF D'ÉTALONNAGE
(JA) 校正方法および校正装置
Abstract
(EN)
A calibration method for calibrating, using a processor, the parameters of a plurality of imaging devices (10a-10n) that respectively image a common three-dimensional space (A1). The method includes: acquiring a plurality of images respectively imaged by the plurality of imaging devices; acquiring the respective parameters of the plurality of imaging devices; generating, for each of the plurality of images, one or more search windows for extracting a plurality of feature points of the image using the plurality of parameters; extracting, for each of the plurality of images, a plurality of feature points from inside of the one or more search windows; performing matching of the plurality of feature points between the plurality of images, and calibrating the parameters of the plurality of imaging devices on the basis of a plurality of obtained matching results.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'étalonnage permettant d'étalonner, en utilisant un processeur, les paramètres d'une pluralité de dispositifs d'imagerie (10a-10n) qui effectuent respectivement l'imagerie d'un espace tridimensionnel commun (A1). Le procédé consiste à : acquérir une pluralité d'images dont l'imagerie est effectuée respectivement par la pluralité de dispositifs d'imagerie ; acquérir les paramètres respectifs de la pluralité de dispositifs d'imagerie ; produire, pour chaque image de la pluralité d'images, une ou plusieurs fenêtres de recherche permettant d'extraire une pluralité de points caractéristiques de l'image en utilisant la pluralité de paramètres ; extraire, pour chaque image de la pluralité d'images, une pluralité de points caractéristiques à partir de l'intérieur de la ou des fenêtres de recherche ; effectuer une mise en correspondance de la pluralité de points caractéristiques entre les images de la pluralité d'images, et étalonner les paramètres de la pluralité de dispositifs d'imagerie en fonction d'une pluralité de résultats de correspondance obtenus.
(JA)
校正方法は、それぞれが共通する三次元空間(A1)を撮像する複数の撮像装置(10a~10n)のパラメータを、プロセッサを用いて校正する校正方法であって、複数の撮像装置によりそれぞれ撮像された複数の画像を取得し、複数の撮像装置のそれぞれのパラメータを取得し、複数の画像のそれぞれについて、複数のパラメータを用いて当該画像の複数の特徴点を抽出するための1以上の探索窓を生成し、複数の画像のそれぞれについて、1以上の探索窓内から複数の特徴点を抽出し、複数の画像間で複数の特徴点のマッチングを行い、得られた複数のマッチング結果に基づいて、複数の撮像装置のパラメータを校正する。
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